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供应能量色散X荧光分析仪 |
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2011-03-20 有效期至:长期有效 |
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能量色散X荧光分析仪 中国型号:HD-CIT-3100SYD | | 能量色散X 荧光分析仪 HD-CIT-3100SYD 能量色散X 荧光分析仪是公司专门应对欧盟国家的卤素测试要求和RoHS 要求而开发的一款能量色散X 荧光分析仪 高档且具有精确测试功能的能量色散X 荧光光谱分析仪。HD-CIT-3100SYD 是我公司HD-CIT-3000SM 系列的升级产品, HD-CIT-3000SM 系列是我公司自主研发的拥有完全知识产权的新一代X 荧光分析仪,被科技部列为“九五”国家 科技成果重点推广项目,并于2003 年被授予“国家重点新产品”称号。 1.HD-CIT-3100SYD 能量色散X 荧光分析仪高档产品配置: ? 采用进口的美国AMPTEK 航天技术的SI(PIN)半导体探测器系列 ? 采用独特专利数字脉冲采集电路及专利的电源管理技术 ? 采用进口的X 光管 ? 采用进口的专用的X 光管高压电源 ? 采用专有金属滤光片技术和切换技术 ? 采用精密的系统控制电路和数字处理电路 ? 采用专有的分析算法软件模块V2.0A ? 配备专业的卤素测试模式和RoHS 测试模式 ? 配备Dell 的Intel 双核CPU 电脑(1G 内存、160G 硬盘)? 配备Dell 17”宽屏高清液晶显示器 ? 配备USB2.0 蓝牙适配器 ? 配备高档的激光打印机 ? 配备专用的制样机 ? 配备专用的真空泵 ? 配备专用的测试薄膜、测试样杯 ? 配备专用的测试标样一套 HD-CIT-3100SYD 能量色散X 荧光分析仪技术指标: ? 分析元素范围:Na-U;? 元素含量分析范围:1ppm -99.99%(采用1024 道多道分析器,分析精度更高); ? 采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数,配合专利的数字脉冲处理技术,能量分辨率优 于139eV; 测量范围:1-40KeV; ? 重复性:<0.1%;稳定性:< 0.01%; ? 高压:5kV-40kV(激发源为进口 40KV-钨靶微型X 射线管); ? 管流:5μA-200μA;(可减少整机功耗和降低辐射); 专业的稳定电源:AC 220V±1%,50HZ(采用国内最先进的高品质稳压电源1000W); ? HD-CIT-3100SYD 能量色散X 荧光分析仪额定功率:50W; ? 整机能量分辨率:150±5eV; ? 检测时间:120S~600S(时间随样品而调整); ? 仪器重量:25Kg; ? 仪器尺寸:500(W)X500(D)X450(H)mm; ? 圆形样品真空腔:直径14cm,高5cm; ? 工作环境温度:温度0-40℃;样品温度 ? 最低检出限:Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm, Pb≤2ppm,Cl≤20PPm; ? 工作环境相对湿度:≤99%(不结露); ? 测量物质状态:固体、粉末、液体均可测,制样简单; ? 校正方式:采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据; ? 一体化设计,性能稳定,运行可靠,性价比高;操作简单,测量时间短,同时配备PC 机,分析仪 通过无线蓝牙技术可单独和PC 进行通信测试,方便使用; ? 稳定精确的卤素测试模式 (Cl 总含量和Br 总含量)和精确的RoHS 测试模式; ? 适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE 有害元素(Pb、Hg、Br、Cd、Cr)检测; ? 钢铁、铝业、水泥、有色、玻璃、耐火材料等行业全元素的快速检测; ? 专业精确卤素检测;
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